自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優(yōu)異的產(chǎn)品設(shè)計以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。
FEI 的 Titan S/TEM 平臺一直在發(fā)展演變，現(xiàn)如今，Titan TEM 系列涵蓋 Titan™ Themis、Titan Krios™ 和 Titan™ ETEM 產(chǎn)品，已成為功能*強(qiáng)大、商用化程度**的 S/TEM 解決方案。這一切都來自革命性的創(chuàng)新，包括更寬的高張力范圍、含有校準(zhǔn)器的平臺以及更大的磁極片間距（以便在更大的空間內(nèi)開展更多操作）。Titan 的研發(fā)始終以穩(wěn)定性和靈活性為基準(zhǔn)，因此才能具有的性能，持續(xù)支持研究人員在原子級別開展研究和探索。
性能特點
Titan 的材料科學(xué)應(yīng)用包括：
化學(xué)成分和價鍵狀態(tài)研究
三維化學(xué)成分成像
S/TEM 斷層掃描
磁場和電場測量
動力學(xué)研究
原位氣固相互作用實驗
Titan 的生命科學(xué)應(yīng)用
對生物樣本的二維和三維表征研究來說，Titan Krios 是功能*強(qiáng)大、靈活性**的高分辨率電子顯微鏡。**的熱穩(wěn)定性和機(jī)械穩(wěn)定性保證了的光學(xué)性能。Titan Krios 讓數(shù)天的無人值守作業(yè)成為可能，而且與自動化樣本裝載裝置結(jié)合使用時，它還能實現(xiàn)的樣本吞吐量。提供多種檢測器和軟件方案供您選擇，以便根據(jù)以下任意應(yīng)用的需求來配置 Titan Krios：
冷凍電子顯微術(shù)
二維電子晶體照像術(shù)
單顆粒分析
雙軸細(xì)胞斷層掃描
應(yīng)用領(lǐng)域
掃描電鏡**地應(yīng)用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工）和非金屬材料（化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。
