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AI靈敏度試片
最近更新時(shí)間：2014-7-3
提 供 商：徐州正浩電子科技有限公司資料大小：15.5KB
文件類型：JPG 圖片下載次數(shù)：92次
資料類型：瀏覽次數(shù)：567次
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特 點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
使用方法：
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場法，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。