樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：4 臺(tái)。                                                    
測(cè)試周期：1 天。
1.1. 低溫跌落試驗(yàn)（Low temperature Drop Test）
測(cè)試環(huán)境：-10°C；3臺(tái)手機(jī)；開機(jī)狀態(tài)。
試驗(yàn)方法：將手機(jī)進(jìn)行電性能參數(shù)測(cè)試后處于開機(jī)狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗(yàn)箱內(nèi)1小時(shí)后取出，進(jìn)行1.3米的６個(gè)面跌落，２個(gè)循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
1.2. 扭曲測(cè)試（Twist Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺(tái)；開機(jī)狀態(tài)；2N·m力矩反復(fù)扭曲手機(jī)1000次。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項(xiàng)功能正常。
1.3. 坐壓測(cè)試（Squeeze Test）                                              
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺(tái)；開機(jī)狀態(tài)；45Kg力反復(fù)擠壓手機(jī)1000次
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項(xiàng)功能正常。
1.4. 鋼球跌落測(cè)試（Ball Drop Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；2臺(tái)手機(jī)；100g鋼球20cm高垂直打擊鏡片表面。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點(diǎn)）， LCD功能正常。