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GCIB-40 離子源系統(tǒng)

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GCIB 40是一種40 kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對(duì)分子離子敏感的分析應(yīng)用。GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有單獨(dú)的的能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了優(yōu)異的電離產(chǎn)率，進(jìn)一步增強(qiáng)了分子信號(hào)。

詳細(xì)介紹

GCIB 40是一種40 kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對(duì)分子離子敏感的分析應(yīng)用。 GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有單獨(dú)的的能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了優(yōu)異的電離產(chǎn)率，進(jìn)一步增強(qiáng)了分子信號(hào)。 GCIB 40具有可選擇的簇大小，從單體到10000多個(gè)，斑點(diǎn)大小小于3µm，是分析完整分子離子的強(qiáng)大工具，具有高空間分辨率。可在J105 SIM上使用，或作為選定第三方儀器的升級(jí)。請(qǐng)與我們聯(lián)系以獲取更多信息。

由于離子束和分子信號(hào)的丟失，有機(jī)樣品的SIMS分析通常會(huì)導(dǎo)致碎片。使用GCIB，可以減少損傷，以便對(duì)材料進(jìn)行分析和深度剖面。然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次離子產(chǎn)額可能較低。在更高的能量下操作會(huì)產(chǎn)生更高的二次離子產(chǎn)率，同時(shí)仍然保持低損傷特性。下圖顯示了在分析有機(jī)樣品時(shí)，離子產(chǎn)額如何與束流能量成比例。盡管一次離子劑量保持不變，但來(lái)自Irganox 1010薄膜 的二次離子信號(hào)從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。同時(shí)，在所有的光束能量中，碎片幾乎保持不變。