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AMPTEK硅漂移探測(cè)器FAST SDD

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹Amptek將硅片制造引入內(nèi)部，并改進(jìn)了工藝

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

Amptek將硅片制造引入內(nèi)部，并改進(jìn)了工藝。其結(jié)果是探測(cè)器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測(cè)器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測(cè)器。

FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測(cè)器（SDD），能夠在保持分辨率的同時(shí)，計(jì)數(shù)率超過(guò)1000000 CPS（每秒計(jì)數(shù)）。FAST SDD還可與C系列（Si3N4）低能窗一起使用，用于軟x射線(xiàn)分析。

與傳統(tǒng)SDD不同，F(xiàn)AST SDD在密封的TO-8封裝內(nèi)使用結(jié)柵場(chǎng)效應(yīng)晶體管（JFET）和外部前置放大器，在TO-8封裝內(nèi)部使用互補(bǔ)的金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）前置放大器，并用金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管（MOSFET）代替JFET。這降低了電容，提供了更低的串聯(lián)噪聲，并在極短的峰值時(shí)間內(nèi)提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測(cè)器，但前置放大器在短峰值時(shí)間內(nèi)提供較低的噪聲。改進(jìn)的（較低的）分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線(xiàn)，否則峰值將重疊，從而允許用戶(hù)更好地識(shí)別其樣品中的所有元素。峰值時(shí)間短也會(huì)提高計(jì)數(shù)率；更多的計(jì)數(shù)提供更好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

性能特點(diǎn)