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日本misec滾筒加熱器 MDV用于加熱滾筒側(cè)面的電加熱器。該加熱器由鉸鏈一分為二，可以用腳輪操作，因此加熱器可以安裝在滾筒的側(cè)面，而無需移動滾筒。

日本misec滾筒/底座加熱器單元MDV-UN從滾筒的側(cè)面和底部加熱的電加熱器。該裝置由從滾筒側(cè)面加熱滾筒內(nèi)容物的側(cè)面加熱器、從底部加熱的底部加熱器和精確控制這...

日本hrd-thermal薄膜熱擴(kuò)散率檢測儀TM3用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱擴(kuò)散率

日本hrd-thermal熱成像范圍 TSI用熱量可視化空隙和裂縫激光加熱功能微距攝影光學(xué)系統(tǒng)（分辨率約 20 μm）高性能紅外相機(jī)（7.5 μm 至 13.5...

可輕松快速評估材料中纖維取向的設(shè)備TEFOD通過使用紅外照相機(jī)測量輻射溫度，可以測量相對于以樣品加熱部分為中心的整個(gè)周圍方向在水平方向上的熱擴(kuò)散率。

日本hrd-thermal穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測量儀SS-H40可用于　TIM（熱界面材料），印刷基板，密封樹脂，隔熱材料，橡膠，（粘合劑），（油脂）等。

日本hrd-thermal熱波分析儀 TA從有機(jī)膜到鉆石，都可以進(jìn)行廣泛的測量。另外，已經(jīng)可以測量難以測量的高導(dǎo)熱樹脂。我們還處理雙層樣品和難以處理的物體的測量...

日本watty燃?xì)饧訜嵊酶咝Ъ訜崞鱓EX用于半導(dǎo)體/FPD制造的超高純度氣體供應(yīng)/加熱

日本watty硅橡膠加熱器Procure® 系列具有優(yōu)異柔韌性的柔性平面加熱加熱器由于是由薄的硅橡膠片構(gòu)成，因此具有好的柔韌性，可以粘在被加熱物體上。

日本advance riko周期加熱法熱擴(kuò)散率測量裝置 FTC系列提供一種能夠簡單地評價(jià)用閃光法難以測量的薄膜樣品的方法。采用交流焦耳加熱法測量薄膜聚合物，紙張...

日本OKK局部加熱裝置一種使用鹵素加熱器和熱空氣焊接較小的表面安裝組件（例如BGA和CSP）的設(shè)備。返修期間，它可以在外圍部件上以小的熱量影響進(jìn)行安裝。

日本iwatsu熱導(dǎo)率測量儀IE-1237通過上，下導(dǎo)熱棒的溫度分布以及樣品的厚度，通過溫度梯度法獲得熱導(dǎo)率。從分布在頂部和底部的熱電偶測量溫度分布。

日本FCD通道流量雙電極測量裝置作為對電極反應(yīng)進(jìn)行分析的有效電化學(xué)測量方法，有“對流伏安法"，典型的例子有“旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極法"和“通道流電極法"。近年來，“通道流...

日本FCD發(fā)電評估裝置PEFC它是一種緊湊且緊湊的臺式機(jī)尺寸評估設(shè)備，是單元測試的理想選擇。

日本i te熱縮管加熱器ITH-15S與傳統(tǒng)干衣機(jī)的手動操作相比，一鍵式可靠收縮，可在幾秒鐘內(nèi)完成可一次處理幾張溫度（加熱時(shí)間）可以根據(jù)目標(biāo)工作自由調(diào)節(jié)?？梢允?..

日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測量儀LaserPIT該裝置是通過掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜，薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測量裝置。在高導(dǎo)熱膜的情...

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000該設(shè)備是一種分布測量設(shè)備，可以同時(shí)評估塞貝克系數(shù)和熱導(dǎo)率。同時(shí)評估可以輕松評估熱電特性。還可以評估功能梯度...

日本advance氙閃光法熱擴(kuò)散率測量裝置TD-1系列該裝置可以評估和測量散熱膜的厚度方向和內(nèi)表面各向異性。通過采用氙氣燈，減少了對樣品的侵害，并且通過使用專y...

日本advance2ω法納米薄膜熱導(dǎo)儀TCN-2ω該設(shè)備是世界上唯yi使用2ω方法測量納米薄膜在厚度方向上的導(dǎo)熱率的商用設(shè)備。與其他方法相比，樣品的生產(chǎn)和測量更...

日本advance熱電轉(zhuǎn)換效率評估裝置Mini-PEM該設(shè)備不僅可以評估熱電模塊產(chǎn)生的電量，還可以評估轉(zhuǎn)換效率。根據(jù)基于四端子法的測量和由熱流量計(jì)測量的熱流量，...