| 測(cè)量精度 |
±3% |
測(cè)量顯示狀態(tài) |
≤3% |
| 測(cè)量最大時(shí)間 |
5-160秒 |
測(cè)試范圍 |
0.005-300W/(m*K) |
| 電源電壓 |
220V |
加工定制 |
是 |
| 適用領(lǐng)域 |
各種不同類(lèi)型材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試 |
|
|
上海埃提森Artisan瞬態(tài)平板導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀是利用瞬態(tài)平面熱源技術(shù)（TPS）開(kāi)發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,可用于各種不同類(lèi)型材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中新型的一種，它使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)全新的水平。在研究材料時(shí)能夠快速準(zhǔn)確的測(cè)量熱導(dǎo)率，為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控、材料生產(chǎn)以及實(shí)驗(yàn)室研究提供了*的方便。該儀器操作方便，方法簡(jiǎn)單易懂，不會(huì)對(duì)被測(cè)樣品造成損壞。
瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀
上海埃提森Artisan瞬態(tài)平板導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀是利用瞬態(tài)平面熱源技術(shù)（TPS）開(kāi)發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,可用于各種不同類(lèi)型材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中新型的一種，上海埃提森Artisan瞬態(tài)平板導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀使測(cè)量技術(shù)達(dá)到了一個(gè)全新的水平。在研究材料時(shí)能夠快速準(zhǔn)確的測(cè)量熱導(dǎo)率，為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控、材料生產(chǎn)以及實(shí)驗(yàn)室研究提供了*的方便。該儀器操作方便，方法簡(jiǎn)單易懂，不會(huì)對(duì)被測(cè)樣品造成損壞。瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)是用于測(cè)量導(dǎo)熱系數(shù)的一種新型的方法，由瑞典Chalmer理工大學(xué)的Silas Gustafsson教授在線熱法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。它測(cè)定材料熱物性的原理是基于無(wú)限大介質(zhì)中階躍加熱的圓盤(pán)形熱源產(chǎn)生的瞬態(tài)溫度響應(yīng)。利用熱阻性材料做成一個(gè)平面的探頭，同時(shí)作為熱源和溫度傳感器。合金的熱阻系數(shù)一溫度和電阻的關(guān)系呈線性關(guān)系，即通過(guò)了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映了樣品的導(dǎo)熱性能。該方法的探頭即是采用導(dǎo)電合金經(jīng)刻蝕處理后形成的連續(xù)雙螺旋結(jié)構(gòu)薄片，外層為雙層的絕緣保護(hù)層，厚度很薄，它令探頭具有一定的機(jī)械強(qiáng)度并保持與樣品之間的電絕緣性。在測(cè)試過(guò)程中，探頭被放置于樣品中間進(jìn)行測(cè)試。電流通過(guò)探頭時(shí)，產(chǎn)生一定的溫度上升，產(chǎn)生的熱量同時(shí)向探頭兩側(cè)的樣品進(jìn)行擴(kuò)散，熱擴(kuò)散的速度依賴于材料的熱傳導(dǎo)特性。通過(guò)記錄溫度與探頭的響應(yīng)時(shí)間，由數(shù)學(xué)模型可以直接得到導(dǎo)熱系數(shù)。
一、產(chǎn)品參數(shù)
1.測(cè)試范圍：0.005-300W/(m*K)。
2.測(cè)量樣品溫度范圍：室溫-130℃。
3.探頭直徑：15mm。
4.精度：±3%。
5.重復(fù)性誤差：≤3%。
6.測(cè)量時(shí)間：5-160秒。
7.電源：AC，220V。
8.整機(jī)功率：﹤100W。
二、平面熱源法優(yōu)勢(shì)
| 瞬態(tài)平面熱源法 | 激光法 | 線熱法 | 保護(hù)平板法 |
測(cè)量方法 | 非穩(wěn)態(tài)法 | 非穩(wěn)態(tài)法 | 非穩(wěn)態(tài)法 | 穩(wěn)態(tài)法 |
測(cè)量物性 | 直接獲得導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散率 | 直接獲得熱擴(kuò)散率和比熱，通過(guò)輸入的樣品密度值計(jì)算得到導(dǎo)熱系數(shù) | 直接獲得導(dǎo)熱系數(shù) | 直接獲得導(dǎo)熱系數(shù) |
適用范圍 | 固體、液體、粉末、膏體、膠體、顆粒 | 固體 | 固體、液體 | 固體 |
樣品制備 | 無(wú)特殊要求，制樣簡(jiǎn)單 | 制樣繁雜 | 制樣簡(jiǎn)單，有特定要求 | 樣品尺寸較大 |
測(cè)量準(zhǔn)確度 | ±3%,極限可達(dá)到±0.5% | 極限可達(dá)到±10% | 極限可達(dá)到±5% | 極限可達(dá)到±3% |
物理模型 | 平面熱源接觸式測(cè)量，只要有限面接觸良好 | 熱源非接觸式 | 線熱源，必須線模型接觸良好 | 熱源接觸式，需面接觸良好 |
熱導(dǎo)范圍[w/(m*k)] | 0.005-300 | 10-500 | 0.005-10 | 0.005-5 |
測(cè)量時(shí)間 | 5-160S | 幾分鐘 | 幾十分鐘 | 數(shù)小時(shí) |
三、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2 2008。
2.測(cè)試范圍廣泛，測(cè)試性能穩(wěn)定，在國(guó)內(nèi)同類(lèi)儀器中，處于較高水平。
3.直接測(cè)量，測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時(shí)間。
4.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響。
5.無(wú)須特別的樣品制備，對(duì)樣品形狀并無(wú)特殊要求，塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可。
6.對(duì)樣品實(shí)行無(wú)損檢測(cè)，意味著樣品可以重復(fù)使用。
7.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)，結(jié)合專(zhuān)屬數(shù)學(xué)模型，利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算。
8.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀。
9.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。
10.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器，運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計(jì)算結(jié)果更加精確。
11.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。
12.智能化的人機(jī)界面，彩色液晶屏顯示，觸摸屏控制，操作方便簡(jiǎn)潔。
13.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動(dòng)化的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通訊和報(bào)告處理系統(tǒng)。
會(huì)員1.png)
