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SpectrumTEQ-EL電致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng)
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基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行精確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/透射率請(qǐng)輸入賬號(hào)
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