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SR715 LCR儀表

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更新時(shí)間：2022-08-03 14:24:11瀏覽次數(shù)：143次

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配件
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多功能校準(zhǔn)器/傳感器模塊
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手機(jī)綜測(cè)儀

手持式天饋線分析儀
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功率計(jì)/功率探頭
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精密噪音分析儀

萬(wàn)用表

程序電源/適配器

PXA/MXA信號(hào)分析儀

示波器
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信號(hào)發(fā)生器（信號(hào)源）

網(wǎng)絡(luò)分析儀

頻譜分析儀
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深圳市達(dá)瑞博電子有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商

商鋪產(chǎn)品：276條

所在地區(qū)：廣東深圳市

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Keysight(原Agilent)E6607AEXT無(wú)線通信測(cè)試儀在單個(gè)儀器中配備了矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器和創(chuàng)新型測(cè)試序列發(fā)生器以及多制式硬件，適用于進(jìn)行非信令測(cè)試

詳細(xì)介紹

Keysight(原Agilent) E6607A EXT 無(wú)線通信測(cè)試儀在單個(gè)儀器中配備了矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器和創(chuàng)新型測(cè)試序列發(fā)生器以及多制式硬件，適用于進(jìn)行非信令測(cè)試。它能夠提供您所需要的功能，在當(dāng)前競(jìng)爭(zhēng)激烈的環(huán)境中降低生產(chǎn)成本。憑借快速測(cè)量和靈活的序列發(fā)生器技術(shù)，EXT 可與芯片組測(cè)試模式同步運(yùn)行，加快了對(duì)智能手機(jī)及其他無(wú)線設(shè)備的校準(zhǔn)與驗(yàn)證速度。

為了簡(jiǎn)化測(cè)試計(jì)劃開(kāi)發(fā)和加快批量制造速度，EXT 還提供一款功能強(qiáng)大的軟件工具：
?Sequence Studio 軟件
利用*的圖形界面極大地簡(jiǎn)化了測(cè)試計(jì)劃開(kāi)發(fā)，可對(duì)您的測(cè)試計(jì)劃進(jìn)行開(kāi)發(fā)和故障診斷，并且自動(dòng)生成 SCPI 代碼
?Signal Studio 軟件
提供性能經(jīng)過(guò)優(yōu)化的參考信號(hào)——由是德(原安捷倫)驗(yàn)證——用于簡(jiǎn)化設(shè)備的同步、控制和測(cè)試
?芯片組軟件
與芯片組供應(yīng)商保持同步以提供一套完整的測(cè)試解決方案，可用于控制和優(yōu)化您的無(wú)線設(shè)備測(cè)試

主要特性與技術(shù)指標(biāo) 極快的測(cè)試速度
?利用靈活的 EXT 序列發(fā)生器以的速度執(zhí)行測(cè)試計(jì)劃，測(cè)量設(shè)置時(shí)間較短并且可以分別設(shè)定，只需捕獲和測(cè)量您需要的信號(hào)
?使用 EXT 序列發(fā)生器進(jìn)行單次采集多項(xiàng)測(cè)量，從而為制造業(yè)提供出色的測(cè)量速度
?同時(shí)采用芯片組測(cè)試模式、快速測(cè)量和靈活的序列發(fā)生器技術(shù)，可消除制造測(cè)試過(guò)程的信令開(kāi)銷(xiāo)
多種制式
?基于標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)射機(jī)快速測(cè)量和調(diào)制分析能力以業(yè)經(jīng)驗(yàn)證的 Keysight(原Agilent) X 系列信號(hào)分析儀為基礎(chǔ)
?可以測(cè)試的和現(xiàn)有的無(wú)線制式，包括 LTE、HSPA+、W-CDMA/HSPA、cdma2000/1xEV-DO、GSM/EDGE/EDGE-EVO、WiMAXTM、藍(lán)牙、GPS/GNSS 等
最少的投資
?通過(guò)一個(gè)專(zhuān)為低成本非信令測(cè)試而優(yōu)化的架構(gòu)來(lái)減少您的初始投資
?通過(guò)可升級(jí)的處理器、出色的硬件和軟件可擴(kuò)展性（緊跟技術(shù)和測(cè)試模式的新進(jìn)展）保護(hù)您的投資，并且降低長(zhǎng)期成本
快速測(cè)試開(kāi)發(fā)
?*的圖形化 Sequence Studio 軟件可顯著簡(jiǎn)化測(cè)試計(jì)劃的創(chuàng)建與故障診斷，降降低對(duì)測(cè)試編程支持的需求
?借助 Signal Studio 和 EXT，您能夠輕松地創(chuàng)建基于標(biāo)準(zhǔn)的任意波形文件以便進(jìn)行器件接收機(jī)測(cè)試，并且憑借當(dāng)前的芯片組同步測(cè)試發(fā)射機(jī)。