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深圳市百思杰檢測技術有限公司
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更新時間：2023-10-18 08:11:04瀏覽次數(shù)：127次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線高加速壽命測試----高加速壽命篩選試驗是由美方所延伸出的設計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為世界范圍內(nèi)電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法
高加速壽命測試 ----
高加速壽命篩選試驗是由美方所延伸出的設計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為世界范圍內(nèi)電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費6個月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT / HASS的試驗方式已成為很多新電子產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示設計缺陷和不足的過程。試驗的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于55°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據(jù)。
一、HALT（High Accelerated Life Testing）高加速壽命試驗
HALT是一種通過讓被測物承受不同的應力，進而發(fā)現(xiàn)其設計上的缺限，以及潛在弱點的實驗方法。HALT的主要目的是通過增加被測物的極限值，進而增加其堅固性及可靠性。HALT利用階梯應力的方式加諸于產(chǎn)品，能夠在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設計邊際及結構強度極限的方法。其加諸于產(chǎn)品的應力有振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。利用該測試可迅速找出產(chǎn)品設計及制造的缺陷、改善設計缺陷、增加產(chǎn)品可靠性并縮短其上市周期，同時還可建立設計能力、產(chǎn)品可靠性的基礎數(shù)據(jù)及日后研發(fā)的重要依據(jù)。
HALT主要應用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。其所施加的應力要遠遠高于產(chǎn)品在正常運輸﹑貯藏﹑使用時的應力。
簡單地說，HALT是以連續(xù)的測試、分析、驗證及整改構成了整個程序。
HALT共分為4個主要試程，即：溫度應力、高速溫度傳導、 隨機振動、溫度及振動合并應力。
（1）溫度應力（HL高低溫試驗箱）
此項試驗分為低溫及高溫兩個階段應力。首先執(zhí)行低溫階段應力，一般產(chǎn)品是設定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達到操作界限或破壞界限；在完成低溫應力試驗后，可依相同程序執(zhí)行高溫應力試驗，即將綜合環(huán)境應力試驗機自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。
（2）高速溫度傳導
此項試驗將先前在溫度階段應力測試中所得到的低溫及高溫操控界限作為此處的高低溫度界限，并以每分鐘60℃的快速溫度變化率在此區(qū)間內(nèi)進行6個循環(huán)的高低溫度變化。在每個循環(huán)的溫度及低溫度都要停留10min，并使溫度穩(wěn)定后再執(zhí)行功能測試。檢查待測物是否發(fā)生可回復性故障，尋找其可操作界限。在此試驗中不需尋找破壞界限。
（3）隨機振動
此項試驗一般產(chǎn)品是將G值自5g開始，且每階段增加5g，并在每個階段維持10min后在振動持續(xù)的條件下執(zhí)行功能測試，以判斷其是否達到可操作界限或破壞界限。
（4）溫度及振動合并應力
此項試驗將高速溫度傳導及隨機振動測試合并同時進行，使加速老化的效果更加顯著。此處使用先前的快速溫變循環(huán)條件及溫變率，并將隨機振動自5g開始配合每個循環(huán)遞增5g，且使每個循環(huán)的高及低溫度持續(xù)10min，待溫度穩(wěn)定后執(zhí)行功能測試，如此重復進行直至達到可操作界限及破壞界限為止。
對在以上四個試程中被測物所產(chǎn)生的任何異常狀態(tài)進行記錄，分析是否可由更改設計克服這些問題，加以修改后再進行下一步驟的測試。通過提高產(chǎn)品的可操作界限及破壞界限，從而達到提升可靠性的目的。
二、HASS（High Accelerated Stress Screen）高加速應力篩選實驗
HASS是產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應力篩選，一般要求100％的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過加速應力方式以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品。
HASS應用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。
HASS試驗包括三個主要試程：
HASS Development （HASS試驗計劃階段）
Proof-of-Screen（計劃驗證階段）
Production HASS（HASS執(zhí)行階段）。
（1）HASS Development
HASS試驗計劃必須參考前面HALT試驗所得到的結果。一般是將溫度及振動合并應力中的高、低溫度的可操作界限縮小20％，而振動條件則以破壞界限G值的50％做為HASS試驗計劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開始執(zhí)行溫度及振動合并應力測試，并觀察被測物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn)，須先判斷是因過大的環(huán)境應力造成的，還是由被測物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時應再放寬溫度及振動應力10%再進行測試，屬后者時表示目前測試條件有效。如情況發(fā)生，則須再加嚴測試環(huán)境應力10%再進行測試。
（2）Proof-of-Screen
在建立HASS Profile（HASS 程序）時應注意兩個原則：首先，須能檢測出可能造成設備故障的隱患；其次，經(jīng)試驗后不致造成設備損壞或"內(nèi)傷"。為了確保HASS試驗計劃階段所得到的結果符合上述兩個原則，必須準備3個試驗品，并在每個試品上制作一些未依標準工藝制造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊及組裝不當?shù)取Ｒ?/span>HASS試驗計劃階段所得到的條件測試各試驗品，并觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測出來，以決定是否加嚴或放寬測試條件，而能使HASS Profile達到預期效果。
在完成有效性測試后，應再以新的試驗品，以調(diào)整過的條件測試30～50次，如皆未發(fā)生因應力不當而被破壞的現(xiàn)象，此時即可判定HASS Profile通過計劃驗證階段測試，并可做為Production HASS之用。反之則須再檢討，調(diào)整測試條件以求獲得的組合。
（3）Production HASS
任何一個經(jīng)過Proof-of-Screen考驗過的HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器，但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶使用后所回饋的異常再做適當?shù)恼{(diào)整。另外，當設計變更時，需要相應修改測試條件。
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