深圳市百思杰檢測技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 工頻磁場抗擾度測試(PFMF)----1.穩(wěn)定持續(xù)工頻磁場抗擾度測試等級1).1A/m;2).3A/m;3).10A/m;4).30A/m;5).100A/m;...
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詳細(xì)摘要： 電壓暫降短時中斷(Dips)----1.電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗起因：電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的
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詳細(xì)摘要： 電快速瞬變脈沖群抗擾度測試(EFT)----1.電快速瞬變脈沖群概述本標(biāo)準(zhǔn)主要介紹國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.4：1998《電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖...
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詳細(xì)摘要： 傳導(dǎo)騷擾抗擾度(CS)----1.傳導(dǎo)騷擾抗擾度1.1?傳導(dǎo)騷擾抗擾度概述本標(biāo)準(zhǔn)主要介紹國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-6:2006，對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1762...
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詳細(xì)摘要： 1.靜電放電抗擾度測試（ESD）----靜電放電抗擾度試驗(ESD)的國家標(biāo)準(zhǔn)為GB/T17626.2(等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2)
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詳細(xì)摘要： 浪涌(沖擊)抗擾度(SURGE)----1.1概述浪涌抗擾度試驗所依據(jù)的國際標(biāo)準(zhǔn)是IEC61000-4-5:2005，對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)是GB/T17626.2:20...
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詳細(xì)摘要： 電壓波動與閃爍測試----1.電壓波動與閃爍介紹電磁兼容限值對每項額定電流小于或者等于16A且無條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化，電壓波動與閃爍...
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詳細(xì)摘要： 1射頻電磁場輻射抗擾度（RS）----目的與應(yīng)用場合1.1輻射抗擾度(RS)概述本標(biāo)準(zhǔn)主要介紹國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-3:2006，對應(yīng)國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1...
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詳細(xì)摘要： 1.諧波電流測試參考標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-3-2EN61000-3-2GB17625.12.諧波電流測試主要測試設(shè)備：限值：表1A類設(shè)備的限值（注：B類設(shè)備輸...
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詳細(xì)摘要： 傳導(dǎo)發(fā)射測試(CE)----1.傳導(dǎo)發(fā)射概述傳導(dǎo)發(fā)射通常也會被成為騷擾電壓測試，只要有電源線的產(chǎn)品都會涉及到傳導(dǎo)發(fā)射測試，包括許多直流供電產(chǎn)品，另外，信號/控制...
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詳細(xì)摘要： 亞馬遜包裝要求----國際安全運輸協(xié)會（ISTA）建立的包裝運輸測試體系，就是為了檢驗貨物能否在經(jīng)過長途的運輸，經(jīng)受各種不同的環(huán)境條件，如航空、船舶、鐵路、公路...
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詳細(xì)摘要： 輻射騷擾（RE）----1.輻射(RE)測試概述輻射發(fā)射（RadiatedEmission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)
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詳細(xì)摘要： ISTA包裝運輸測試----ISTA(InternationalSafeTransitAssociation)，即國際安全運輸協(xié)會，是一個國際性的非牟利組織，其...
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詳細(xì)摘要： 堆碼壓力測試----堆碼壓力試驗用來驗證待測物在包裝狀態(tài)，模擬在倉儲棧板或運輸時包裝物的堆放，紙箱所能承受的耐壓強(qiáng)度水平
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詳細(xì)摘要： 結(jié)露測試----結(jié)露測試主要是要測試安裝在有濕度區(qū)域的電子元器件暴露在極限濕度下能否滿足功能要求
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詳細(xì)摘要： 碰撞測試----碰撞測試是通過碰撞測試臺，來模擬產(chǎn)品在使用、運輸和卸載過程的機(jī)械碰撞環(huán)境
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詳細(xì)摘要： 溫度沖擊試驗----溫度變化類試驗項目有眾多名稱：溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊、溫度梯度、分級溫度等名稱，且不同體系的標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)用的...
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詳細(xì)摘要： 快速溫變試驗----為設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)變
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詳細(xì)摘要： 溫濕度循環(huán)試驗----溫濕度循環(huán)試作為自然環(huán)境的模擬，可以考核產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的適應(yīng)能力，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗
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