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全國顯示計量與測試技術(shù)研討會召開 聚焦光學(xué)計量
點擊次數(shù)：596 發(fā)布時間：2016-10-28
2016年10月19日，由中國計量測試學(xué)會光輻射計量專業(yè)委員會、國防科技工業(yè)光電子一級計量站、中國計量科學(xué)研究院光學(xué)與激光計量科學(xué)研究所等單位主辦的2016全國顯示計量與測試技術(shù)交流研討會在山東青島召開。
會議由光輻射委員會主席林延?xùn)|研究員致大會開幕詞，會議邀請了美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院NIST研究員John Penczek博士、中國計量科學(xué)研究院陳赤研究員、東南大學(xué)李曉華教授等國內(nèi)外光顯示計量與測試領(lǐng)域的專家和學(xué)者到會并做專題講座，與會代表就光顯示計量測試技術(shù)的研究成果進行了討論和分享。
IEC TC110標(biāo)準(zhǔn)項目組長、浙大三色標(biāo)準(zhǔn)化專家李俊凱受邀作了“新型顯示測試技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)”主題報告。他向與會代表介紹了浙大三色公司在IEC TC110電子顯示標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會中牽頭制定的8項標(biāo)準(zhǔn)的進展情況，并就當(dāng)前顯示領(lǐng)域關(guān)注的激光顯示、AR/VR等新型顯示器件的光學(xué)性能和圖像評測標(biāo)準(zhǔn)化思路、相關(guān)測量技術(shù)做了進一步的介紹。