日本snk表面附著異物可視化技術(shù)

【資料簡(jiǎn)介】

日本snk表面附著異物可視化技術(shù)

可視化技術(shù)，用于觀察粘附在表面的細(xì)小顆粒，異物或污垢

細(xì)顆粒可視化技術(shù)可用于以高靈敏度檢測(cè)光滑表面上的顆粒。另外，通過(guò)可視化由顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。

如何使用散射光

高靈敏度細(xì)顆?？梢暬夹g(shù)是一種捕獲移動(dòng)的細(xì)顆粒的散射光的技術(shù)。使用相同的原理，可以以高靈敏度檢測(cè)產(chǎn)品移動(dòng)時(shí)表面上的異物和微弱的散射光。當(dāng)使用激光時(shí)，它只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品，但是例如對(duì)于膠片，也可以通過(guò)可視化檢測(cè)張緊的位置。

使用散射光感測(cè)表面異物

如何一起使用熒光

附著在表面的異物和污垢可能會(huì)使從該組件發(fā)出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設(shè)計(jì)要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光截?cái)?，則表面上的異物將非常鮮艷并且易于觀察。無(wú)論表面光滑度如何，此方法都可以可視化是否有光到達(dá)。可以免費(fèi)租用“ D Light”（約2天）。請(qǐng)借此機(jī)會(huì)嘗試一下。

使用熒光識(shí)別異物和污垢

利用表面粒子可視化技術(shù)的z佳解決方案

• “ D Light”，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色
• “ D Scope”是一種工具，可以捕獲細(xì)顆粒的各種信息，并通過(guò)捕獲弱熒光將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)。
• “ Parallel Eye F”是一種相對(duì)容易設(shè)置在要可視化的表面上的光源。
• 可視化寬而光滑產(chǎn)品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
• “ Parallel Eye D”是可視化不平坦表面并使熒光更加突出的z佳光源。
• 具有于微粒檢測(cè)的靈敏度和功能的超高靈敏度相機(jī)是的超高靈敏度相機(jī)“ Eyescope”。
• 圖像處理軟件包“ Particle Eye”，用于在計(jì)算機(jī)上實(shí)時(shí)圖像處理和視頻記錄
• 當(dāng)您要使用細(xì)顆粒可視化系統(tǒng)處理制造環(huán)境中的緊急問(wèn)題時(shí)，可以提供現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估服務(wù)
• 在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和公共關(guān)系等地點(diǎn)使用細(xì)顆粒可視化系統(tǒng)時(shí)的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)/公共關(guān)系支持服務(wù)