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東莞市賽思檢測設(shè)備有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)SIR13
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地
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更新時(shí)間：2024-05-21 09:05:59瀏覽次數(shù)：138次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng)面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不好現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng) 用 途：
面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不好現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng)適用標(biāo)準(zhǔn)：
JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng) 技術(shù)規(guī)格：
| 產(chǎn)品名稱 | 絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng) | |||||||||||
| 型號(hào) | SIR13 | |||||||||||
| 120V基板 | 250V基板 | 500V基板 | 1000V基板 | |||||||||
| 基板測試部 | 測試電阻范圍 | 320Ω～120TΩ | 320Ω～2.5TΩ | 320Ω～250TΩ | 320Ω～500TΩ | 320Ω～1000TΩ | ||||||
| 測試通道數(shù) | 8ch/基板 | 16ch/基板 | 8ch/基板 | |||||||||
| 連接電纜 | 2根一對/基板 4線式 | 2根一對/基板 加載測試電纜×2 | 2根一對/基板 加載電纜×1、測試電纜×1 | |||||||||
| 電氣特性 | 電 壓 加 載 部 | 加載電壓 | 電壓量程1 | 0.10V～120.00V | 0.1V～250.0V | 1.0V～500.0V | 1.0V～1000.0V | |||||
| 電壓量程2 | 0.100V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 加載設(shè)定分辨率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本加載精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 較大輸出功率 | 96mW/ch | 256mW/8ch | 300mW/ch | |||||||||
| 加載組數(shù) | 1組（1ch/1組） | 2組（8ch/1組） | 1組（8ch/1組） | |||||||||
| 加載量程 | 2量程 | 1量程 | ||||||||||
| 加載通道數(shù) | 1ch | 8ch | ||||||||||
| 較大負(fù)載容量 | 2.0μF/1ch | 0.47μF/8ch | 3300pF/1ch | |||||||||
| 電 壓 顯 示 器 | 顯示器量程 | 2量程 | 1量程 | |||||||||
| 顯示器 范圍 | 電壓量程1 | 0.00V～120.00V | 0.0V～250.0V | 0.0～500.0V | 0.0V～1000.0V | |||||||
| 電壓量程2 | 0.000V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 顯示器分辯率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本顯示器精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 顯示器分割單位 | 1ch | 1組或1ch | 1ch | |||||||||
| 顯示器周期 | 40ms | |||||||||||
| 顯示器通道數(shù) | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 電 流 測 試 | 測試量程 | 3量程 | 2量程 | 3量程 | ||||||||
| 顯示器 范圍 | 電流量程1 | 0.00μA～320.00μA | ||||||||||
| 電流量程2 | 0.0000μA～3.2000μA | |||||||||||
| 電流量程3 | 0.00nA～32.000nA | -- | 0.000nA～32.000nA | |||||||||
| 量程設(shè)定 | 320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·自動(dòng) | 320.00μA·3.2000μA·自動(dòng) | 320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自動(dòng) | |||||||||
| 測試較小分辨率 | 電流量程1 | 10nA | 10nA | 10nA | ||||||||
| 電流量程2 | 100pA | 100pA | 100pA | |||||||||
| 電流量程3 | 1pA | 1pA | 1pA | |||||||||
| 基本測試精度 | ±0.3%/FS | |||||||||||
| 通道數(shù) | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 數(shù)據(jù)收錄周期 | 定期30s（較小）/離子遷移時(shí)40ms（較?。?/span> | |||||||||||
| 離子遷移測試速度 | 40ms | |||||||||||
| 漏泄檢出 | 400μs/ch | |||||||||||
| 測試周期 | 40ms | |||||||||||
| 其他功能 | 自己診斷 | 外接標(biāo)準(zhǔn)電阻診斷 ※選配 | ||||||||||
| 連鎖 | 箱體門打開時(shí)，測試自動(dòng)中斷功能 ※選配 | |||||||||||
| 斷線檢出 | 端子斷線檢出功能 | -- | ||||||||||
| 試驗(yàn)槽內(nèi)溫濕度收錄 | 追加溫濕度測試基板、借助3CS·keyless軟件較大可以收錄4個(gè)槽的數(shù)據(jù) ※選配 | |||||||||||
| 樣品溫度收錄 | 通過3CS SMU 每個(gè)通道能夠收錄1個(gè)點(diǎn) ※選配 | |||||||||||
| 系統(tǒng)較大構(gòu)成 | SIR13 | 80ch（10基板） | 160ch（10基板） | 80ch（10基板） | ||||||||
| SIR13mini | 24ch（3基板） | 48ch（3基板） | 24ch（3基板） | |||||||||
| 控制部 | 系統(tǒng)控制電腦 | Windows XP Pro.SP2適于Windows2000） Pentium 500MHz以上 內(nèi)存256Mbyte以上 | ||||||||||
| 測試部的連接 | GP-IB 或Ethernet | |||||||||||
| 其他 | 停電對策 | 停電發(fā)生前保存收錄數(shù)據(jù)，并且通電后能夠繼續(xù)收錄 ※不停電電源必須 | ||||||||||
| 控制單元 | 結(jié)構(gòu)類型 | SIR13 | SMU 10插槽式 外形尺寸:W430×H300×D620 ※不包含突起部分 重量：約30kg（SMU 10枚配備時(shí)） 消耗電流：5A以下（100V使用時(shí)） | |||||||||
| SIR13mini | SMU 3插槽式 外形尺寸:W220×H370×D390 ※不包含突起部分 重量：約20kg（SMU 3枚配備時(shí)） 消耗電流：2A以下（100V使用時(shí)） | |||||||||||
| 耐噪聲能力 | 1μs脈沖 2KV 1分鐘 | |||||||||||
| 絕緣電阻 | DC500V 100MΩ以上 | |||||||||||
| 使用電源 | AC85V～264V 50/60Hz | |||||||||||
| 使用環(huán)境 | 溫度+10℃～+40℃ 濕度75%RH以下（無結(jié)露） | |||||||||||
| 保存環(huán)境 | 溫度-10℃～+ 60℃ | |||||||||||
絕緣劣化及離子遷移特性評價(jià)系統(tǒng) 產(chǎn)品圖片
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