hbzhan內(nèi)容導(dǎo)讀：測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
　　
　　目前，國(guó)內(nèi)國(guó)外不管是出名的品牌還是一般的生產(chǎn)廠家，其測(cè)厚儀的操作方法均需要如下步驟：
　　
　　1調(diào)零，即在特定的零板上調(diào)零，或在需要測(cè)量的原基材上調(diào)零;
　　
　　2根據(jù)測(cè)量產(chǎn)品的不同測(cè)量范圍，用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試片調(diào)值，以減少測(cè)量上的誤差。這種方法一般情況下，儀器新購(gòu)使用時(shí)還是沒(méi)有什么問(wèn)題的，只是比較繁瑣一點(diǎn)。但當(dāng)探頭使用一段時(shí)間后，問(wèn)題就出來(lái)了。操作中我們的儀器測(cè)量精度大大減小了。很難把握。原因在于產(chǎn)品的原理，這是一個(gè)致命的缺陷，即探頭是使用一根磁鐵繞線圈。
　　
　　通上電流后產(chǎn)生磁場(chǎng)，這個(gè)磁場(chǎng)是不規(guī)則的。還好，現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀，它采用的是的磁感技術(shù)。
　　
　　也就是我們知道的霍爾效應(yīng)，霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。通過(guò)研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系，測(cè)量電磁鐵磁場(chǎng)、磁導(dǎo)率、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比，與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比，與薄片的厚度d成反比。這個(gè)磁場(chǎng)是就變成規(guī)則的。該原理運(yùn)用在涂層測(cè)厚儀上面就無(wú)需再調(diào)測(cè)試片了。特別是測(cè)量圓弧的或凹面的產(chǎn)品時(shí)，使用更為簡(jiǎn)單和方便了。
　　
　　測(cè)厚儀的時(shí)候要注重以下八點(diǎn)：
　　
　　1.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
　　
　　2.在測(cè)量的時(shí)候要注重，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
　　
　　3在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
　　
　　4.在測(cè)量的時(shí)候要注重試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
　　
　　5.測(cè)量前要注重四周其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，假如會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
　　
　　6.測(cè)量時(shí)要注重不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面外形的忽然變化很敏感。
　　
　　7.在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
　　
　　8.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注重儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)